Libros de: Sturdivant, Rodnet X.

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  Applied Logistic Regression
  

  Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley Sturdivant, Rodnet X.

  Wiley & Sons Ltd. (2013)

  

  • EAN: 9780470582473
  • Páginas: 528
  • Fecha de edición: 2013

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